二次離子質譜
應用:痕量雜質定性定量(標樣法)分析
優(yōu)點:檢測限可達PPM,甚至PPB量級,能檢測含氫在內的所有元素及同位素,分析化合物組分及有機大分子
結構,能夠進行微區(qū)成分的成像及深度剖面分析
缺點:定量差,樣品表面需要平整,破壞樣品
應用領域:半導體及微電子領域:基體表面痕量雜質分析
環(huán)境領域:大氣中微粒成分分析、地質樣品
納米材料的結構
座機:15372091609
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