透射掃描電鏡
物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息
特點:透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV),對于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng),
形成的透射像襯度低,而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV),因此應(yīng)用其STEM模式成透射像,可
大大提高像的襯度。
掃描電鏡的STEM模式觀察生物樣品時,樣品無需染色直接觀察即可獲得較高襯度的圖像。
應(yīng)用:掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點,非常適合于有機(jī)高分子、生物等軟材料的
結(jié)構(gòu)分析,將在此類材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。