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X射線熒光光譜儀
發(fā)布時(shí)間: 2019-10-16 12:57:49

有兩種基本類型:   波長(zhǎng)色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)


 檢測(cè)元素范圍:有效的元素測(cè)量范圍為 11號(hào)元素(Na)到92號(hào)元素(U)


樣品要求:熒光分析的樣品有效厚度一般為≤0.1mm。(金屬≤0.1mm;樹脂≤3mm)有效厚度并非初級(jí)

線束穿透的深度,而是由分析線能夠射出的深度決定的!



優(yōu)點(diǎn):分析速度高;非破壞分析;分析精密度高;制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。


缺點(diǎn):難于作絕對(duì)分析,故定量分析需要標(biāo)樣;對(duì)輕元素的靈敏度要低一些;容易受相互元素干擾和疊

加峰影響。無法測(cè)定價(jià)態(tài)。半定量分析。


XRF測(cè)試的點(diǎn)很小通常在10毫米左右,如果樣品放置的位置不同,很容易導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不一樣,而這種情

況下,不一定是儀器出現(xiàn)問題,也有可能是樣品的材質(zhì)不均勻。

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